국내 연구팀이 반도체나 이차전지 내부 결함을 찾아내는 비파괴검사 혁신 기술을 개발했다. 디지스트(DGIST)는 로봇및기계전자공학과 한상윤·유재석 교수 공동 연구팀이 반도체 제조 공정을 활용해 머리카락 굵기보다 작은 초소형 광(光) 초음파 센서를 세계 최초로 개발했다고 1일 밝혔다.