공간, 진폭, 위상 다중 파라미터 동시 제어가 가능한 전 공정 4D 프린팅 기반 메타표면

연구목표

... 프로그래밍함으로써 빔 스캐닝, 다중 빔 발생, OAM 빔 발생의 기능을 가지는 메타표면을 개발하고자 한다. 기존 메타표면과 비교하여 다중 파라미터 제어를 통해 분해능 개선 및 스캐닝 범위 확대의 성능적 우위를 달성할 수 있을 뿐만 아니라, 전 공정 4D 프린팅 기술을 통해 시스템의 복잡도를 대폭 낮추고, 저비용 및 지속가능성의 목표 또한 달성하는 것을 목표로 한다.